ToF-SIMS står för Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry och är en effektiv analysmetod för undersökningar av ytors sammansättning. Det långa och lite krångliga namnet beskriver metoden där ett masspektrum erhålls genom att mäta tiden det tar för joner som kommer från ytan att flyga genom mätutrustningen. Webb飞行时间二次离子质谱（tof-sims），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。tof-sims具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性 …

ToF-SIMS Depth Profiling of Metal, Metal Oxide, and Alloy …

Webb二次イオン質量分析法（SIMS）は、ppbレベルの極微量不純物元素を同定・定量できる非常に高感度な分析手法です。スパッタリングしながら測定するため、膜中の不純物の … Webb飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS） PHI nanoTOF 3 究極の微小領域表面質量分析 イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザー（TRIFT型アナライザー）を継承しつつ、当社XPSで実績のある試料搬送機構を採用、また、ユニークなイオンビームテクノロジーにより完全ターンキー帯電中和が可能になりました。 多試料の … michel hartmann photos

TOF SIMS Thermo Fisher Scientific - JP

WebbTOF-SIMS Bei der (Time Of Flight-SIMS) Flugzeit-SIMS handelt es sich um eine spezielle Variante der SIMS. Diese Variante benutzt einen gepulsten Primärionenstrahl mit so geringer Stromdichte, dass während einer Oberflächenanalyse nur ein Bruchteil einer Monolage abgetragen wird. WebbTime-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) is a surface analytical technique that focuses a pulsed beam of primary ions onto a sample surface, producing … WebbI.1 Méthode d’analyse par ToF-SIMS. I.1.1 Développement de la méthode d’analyse par spectrométrie de masse ToF-SIMS. I.1.2 Extraction des données. I.2 Décomposition via le logiciel de peak-fitting CasaXPS. I.2.1 Des données brutes ToF-SIMS aux données CasaXPS. I.2.2 Régions d’intégration. the nevertheless cast